因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

介電常數(shù)（ε）、介質(zhì)損耗角正切（tanδ）、體積電阻率（ρv）、表面電阻率（ρs）、擊穿場(chǎng)強(qiáng)（Eb）、相對(duì)電容率、極化特性、頻率響應(yīng)特性、溫度系數(shù)（αε）、濕度影響系數(shù)、交流導(dǎo)電率、直流導(dǎo)電率、電荷弛豫時(shí)間、介電弛豫譜、空間電荷分布、局部放電特性、介質(zhì)吸收效應(yīng)、耐電弧性、耐電痕化指數(shù)（***）、絕緣電阻衰減率、介電強(qiáng)度溫度梯度、復(fù)介電常數(shù)實(shí)部/虛部、各向異性介電參數(shù)、納米填料分散均勻度、結(jié)晶度影響系數(shù)、分子取向度關(guān)聯(lián)參數(shù)、交聯(lián)度測(cè)試值、添加劑遷移率測(cè)試、老化后介電穩(wěn)定性、循環(huán)濕熱耐受性

檢測(cè)范圍

聚乙烯（PE）、聚丙烯（PP）、聚氯乙烯（PVC）、聚苯乙烯（PS）、聚碳酸酯（PC）、聚酰胺（PA6/PA66）、聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯（PET）、聚對(duì)苯二甲酸丁二醇酯（PBT）、聚甲醛（POM）、聚苯硫醚（PPS）、液晶聚合物（LCP）、聚醚醚酮（PEEK）、聚四氟乙烯（PTFE）、聚偏氟乙烯（PVDF）、丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物（ABS）、聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）、熱塑性彈性體（TPE）、環(huán)氧樹脂基復(fù)合材料、酚醛樹脂基復(fù)合材料、硅橡膠改性材料、碳纖維增強(qiáng)塑料（CFRP）、玻璃纖維增強(qiáng)塑料（GFRP）、納米二氧化硅填充體系、鈦酸鋇復(fù)合體系、石墨烯導(dǎo)電復(fù)合材料、抗靜電改性材料、阻燃劑協(xié)同體系、生物基可降解塑料（PLA/PHA）、醫(yī)用級(jí)高分子材料、5G高頻基板專用料

檢測(cè)方法

1.平行板電容法：基于ASTMD150標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)建電極系統(tǒng)，通過(guò)精密LCR表測(cè)量試樣電容值計(jì)算ε和tanδ2.同軸諧振腔法：采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在1MHz-10GHz頻段內(nèi)測(cè)定材料復(fù)介電常數(shù)3.波導(dǎo)傳輸線法：適用于毫米波頻段(30-300GHz)的寬帶介電特性測(cè)試4.時(shí)域反射法(TDR)：通過(guò)脈沖信號(hào)傳播時(shí)延分析獲取介質(zhì)參數(shù)5.熱刺激電流法(TSC)：研究材料極化/去極化過(guò)程中的電荷釋放特性6.高壓擊穿測(cè)試：依據(jù)IEC60243標(biāo)準(zhǔn)階梯升壓法測(cè)定Eb值7.三電極系統(tǒng)法：精確測(cè)量體積/表面電阻率消除邊緣效應(yīng)誤差8.動(dòng)態(tài)介電分析(DEA)：在溫度掃描模式下研究材料相變行為9.微波諧振腔微擾法：無(wú)損檢測(cè)微小試樣在高頻段的ε值10.太赫茲時(shí)域光譜術(shù)：表征材料在0.1-10THz頻段的介電響應(yīng)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ASTMD150-18《固體電絕緣材料交流損耗特性及介電常數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》IEC60250:1969《確定電氣絕緣材料在工頻、音頻、射頻下相對(duì)介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》GB/T1409-2006《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》ISO1325:2021《塑料-薄膜和薄片-表面電阻率的測(cè)定》JISK6911-2019《熱固性塑料一般試驗(yàn)方法》第15章介電特性UL746A-2020《聚合材料-短期性能評(píng)估》第8節(jié)電氣性能測(cè)試IPCTM-6502.5.5.3《印制板基材介電常數(shù)與損耗角正切測(cè)試》MIL-STD-202GMethod301《介質(zhì)耐電壓試驗(yàn)方法》DINEN62631-3-1:2016《固體絕緣材料的介電和電阻特性》SJ/T1147-2015《電子元器件用塑料介質(zhì)損耗角正切和相對(duì)介電常數(shù)試驗(yàn)方法》

檢測(cè)儀器

1.阻抗分析儀(KeysightE4990A)：20Hz-120MHz寬頻帶測(cè)量系統(tǒng)，配備16451B介電測(cè)試夾具2.矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(R&SZNB40)：10MHz-40GHz微波段測(cè)試平臺(tái)集成諧振腔組件3.高壓擊穿試驗(yàn)機(jī)(HiokiST5520)：0-50kV可調(diào)直流電源配合自動(dòng)升壓控制系統(tǒng)4.寬頻LCR表(Agilent4284A)：20Hz-1MHz精密阻抗測(cè)量裝置支持四端對(duì)連接5.環(huán)境試驗(yàn)箱(ESPECSH-641)：-70℃~+180℃溫控系統(tǒng)集成電極穿透裝置6.太赫茲光譜儀(TeraViewTPS4000)：0.06-4THz頻段時(shí)域光譜采集系統(tǒng)7.動(dòng)態(tài)介電分析儀(NetzschDEA231)：多頻掃描模式結(jié)合溫度程序控制功能8.三電極測(cè)試系統(tǒng)(Keithley8009)：符合IEC60093標(biāo)準(zhǔn)的電阻率測(cè)量裝置9.局部放電檢測(cè)儀(PD-TechLDS-6)：100pC分辨率數(shù)字式局部放電分析系統(tǒng)10.X射線衍射儀(RigakuSmartLab)：結(jié)晶度與分子取向度定量分析設(shè)備

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說(shuō)明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件