微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
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中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-05-27
關(guān)鍵詞:寬波長(zhǎng)非零色散單模光纖特性檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),寬波長(zhǎng)非零色散單模光纖特性檢測(cè)機(jī)構(gòu),寬波長(zhǎng)非零色散單模光纖特性檢測(cè)周期
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
色散系數(shù)、衰減系數(shù)譜分布、截止波長(zhǎng)偏差、模場(chǎng)直徑一致性、偏振模色散系數(shù)、宏彎損耗靈敏度、幾何參數(shù)公差(包層直徑/同心度/不圓度)、涂層同心度偏移量、零色散波長(zhǎng)偏移量、色散斜率線性度、溫度循環(huán)衰減穩(wěn)定性、濕熱老化性能、抗拉強(qiáng)度保留率、動(dòng)態(tài)疲勞參數(shù)n值篩選、涂層剝離力臨界值、光纖翹曲半徑極限值、氫損敏感性評(píng)估、非線性效應(yīng)閾值(SBS/SRS)、PMD鏈路統(tǒng)計(jì)值(Q因子)、OTDR事件點(diǎn)定位精度、端面研磨角度容差、接續(xù)損耗重復(fù)性驗(yàn)證、抗輻射性能等級(jí)判定、彎曲不敏感性驗(yàn)證(半徑5mm/10mm)、涂層收縮率控制指標(biāo)、紫外固化度達(dá)標(biāo)率篩選、抗化學(xué)腐蝕能力分級(jí)(酸堿/有機(jī)溶劑)、縱向均勻性偏差分析(5km段長(zhǎng))、抗微彎損耗指數(shù)分級(jí)(側(cè)壓載荷0.7N/mm)、抗氫老化加速壽命測(cè)試。
G.655.A/B/C/D/E型非零色散位移單模光纖、海底通信增強(qiáng)型NZDSF光纖、超低損耗ULL-NZDSF光纖、大有效面積LEAF光纖、高負(fù)色散補(bǔ)償光纖模塊組件、抗彎曲G.657兼容NZDSF混合光纖束纜單元結(jié)構(gòu)件樣本段(含松套管/緊套層/帶狀結(jié)構(gòu))、高溫穩(wěn)定型陶瓷涂層NZDSF預(yù)制棒切片樣本組(芯徑波動(dòng)0.1μm批次)、氣吹敷設(shè)專用微纜單元樣本組(含不同填充膏配比對(duì)照樣)、高密度數(shù)據(jù)中心用MPO連接器預(yù)裝NZDSF跳線樣本組(8芯/12芯/24芯陣列)、特種氟樹(shù)脂涂覆耐腐蝕NZDSF樣本段(酸性環(huán)境加速老化對(duì)比組)、抗氫損金屬涂層NZDSF樣本段(氫分壓50kPa加速試驗(yàn)組)、超低PMD旋繞工藝NZDSF盤(pán)纖樣本(盤(pán)徑300mm/600mm對(duì)照樣)、高寒地區(qū)用耐低溫NZDSF樣本組(-60℃冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)組)、抗側(cè)壓鎧裝NZDSF光纜樣本段(鋼帶/芳綸加強(qiáng)層結(jié)構(gòu)對(duì)照樣)。
相移法色散測(cè)試:采用可調(diào)諧激光源與參考光路干涉系統(tǒng)測(cè)量群時(shí)延隨波長(zhǎng)變化率。
截?cái)喾ㄋp譜分析:通過(guò)比對(duì)2km光纖段輸入輸出光功率譜密度計(jì)算單位損耗。
波長(zhǎng)掃描模場(chǎng)直徑測(cè)定:基于可變孔徑遠(yuǎn)場(chǎng)掃描技術(shù)獲取1310nm/1550nm雙窗口模場(chǎng)分布。
偏振態(tài)分析法PMD測(cè)試:利用瓊斯矩陣本征分析儀測(cè)量差分群時(shí)延統(tǒng)計(jì)分布。
三點(diǎn)彎曲宏彎損耗測(cè)試:在半徑15mm/20mm/30mm繞軸條件下測(cè)量1550nm窗口附加損耗。
高溫高濕加速老化試驗(yàn):85℃/85%RH環(huán)境箱中持續(xù)1000小時(shí)監(jiān)測(cè)涂層剝離力衰減率。
動(dòng)態(tài)疲勞n值四點(diǎn)彎曲法:通過(guò)不同應(yīng)變速率下斷裂概率計(jì)算裂紋增長(zhǎng)指數(shù)。
OTDR事件點(diǎn)解析校準(zhǔn):使用10cm空間分辨率模塊定位接續(xù)點(diǎn)反射事件位置誤差。
端面干涉儀研磨角測(cè)量:采用λ/10精度相移干涉儀分析8APC端面角偏差。
SBS閾值功率掃描法:通過(guò)窄線寬激光器逐步提升輸入功率監(jiān)測(cè)布里淵散射拐點(diǎn)。
ITU-TG.650.1《單模光纖相關(guān)參數(shù)的定義與測(cè)試方法》
ITU-TG.650.2《單模光纖統(tǒng)計(jì)和非線性屬性測(cè)量》
IEC60793-1-40《光學(xué)纖維第1-40部分:衰減均勻性試驗(yàn)方法》
IEC60793-1-48《光學(xué)纖維第1-48部分:偏振模色散的測(cè)量》
TIA/EIA-455-80-C《光纖幾何參數(shù)測(cè)試的折射近場(chǎng)法》
GB/T15972.20-2008《光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第20部分:尺寸參數(shù)的測(cè)量》
YD/T2157-2021《通信用G.655類非零色散單模光纖特性》
IECTR62316《光纖宏彎損耗測(cè)量的指導(dǎo)性技術(shù)文件》
JISC6835《單模光纖機(jī)械可靠性試驗(yàn)方法》
ASTMD4566-19《通信光纜機(jī)械性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)》
光時(shí)域反射儀(OTDR):配備1650nm探測(cè)波長(zhǎng)模塊與40dB動(dòng)態(tài)范圍,實(shí)現(xiàn)≥120km鏈路衰減分布解析。
色散測(cè)試系統(tǒng):集成可調(diào)諧激光源(1520-1620nm)與相位敏感探測(cè)器,色散分辨率達(dá)0.01ps/(nmkm)。
偏振分析儀:基于斯托克斯參量分析法實(shí)現(xiàn)PMD系數(shù)0.01ps/√km精度測(cè)量。
光纖幾何參數(shù)分析儀:采用折射近場(chǎng)掃描技術(shù)實(shí)現(xiàn)包層直徑0.1μm級(jí)重復(fù)性測(cè)量。
動(dòng)態(tài)疲勞試驗(yàn)機(jī):四點(diǎn)彎曲夾具支持0.01%/s至10%/s應(yīng)變速率精確控制。
高溫高濕試驗(yàn)箱:溫控精度0.5℃/濕度波動(dòng)2%RH滿足IEC60068-2-78標(biāo)準(zhǔn)要求。
端面干涉儀:配備60倍物鏡與數(shù)字相位解算軟件實(shí)現(xiàn)APC端面角0.2測(cè)量精度。
SBS閾值測(cè)試系統(tǒng):集成窄線寬DFB激光器(線寬≤5MHz)與高靈敏度光譜分析模塊。
微彎敏感度測(cè)試臺(tái):采用陣列式側(cè)壓加載裝置實(shí)現(xiàn)0-50N/mm線性壓力梯度施加。
氫老化試驗(yàn)裝置:密閉腔體支持100kPa氫氣分壓環(huán)境模擬與實(shí)時(shí)透氫率監(jiān)測(cè)。
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件